Karakterisasi
material menggunakan X-Ray Difrraction
(XRD) bertujuan untuk mendapatkan hasil struktur, orientasi kristal dan parameter
kisi dari material tersebut. XRD memiliki konsep alat berdasarkan difraksi
sinar-X. Apabila terdapat suatu benda yang dikenai oleh sinar-X maka akan
terjadi pembiasan sinar-X oleh bidang kristal. Pembiasan tersebut akan memiliki
panjang gelombang yang sama dengan jarak antar kisi kristal. Sinar-X kemudian
ditangkap oleh detektor pada XRD dan diterjemahkan dalam puncak difraksi. Difraksi sinar-X akan
menghasilkan pola-pola tertentu berdasarkan konfigurasi oleh atom yang menyusun
kristal. Intepretasi geometris dari XRD dijelaskan oleh hukum Bragg yang
ditunjukkan pada Gambar 2.6.
Gambar 2.6. Hamburan sinar-x pada kristal kubus
Sinar-X dengan panjang gelombang (λ) ketika mengenai atom pada bidang Bragg maka akan terjadi interferensi konstruktif.
Interferensi ini terjadi apabila sinar yang terhambur sejajar dengan beda jarak
nλ. Selanjutnya akan terbentuk sudut
antara sinar datang terhadap permukaan bidang Bragg yaitu (θ) sedang (d) adalah jarak antara kisi dan (n) adalah bilangan bulat 1, 2, 3...
dengan demikian didapatkan persamaan Bragg sebagai berikut ( James dan Bernard, 2010):
Karakterisasi
XRD digunakan untuk mendapatkan struktur kristal. Data berupa puncak difraksi (2 theta)
dan intensitas (I) diperoleh dari
hasil kakrakterisasi XRD. Setiap puncak yang muncul pada pola XRD merupakan
perwakilan tiap bidang kristal yang memiliki orientasi tertentu. Puncak
difraksi dapat digunakan untuk menentukan struktur kristal, parameter kisi,
tingkat kekristalan dan ukuran kristal dari BFO. Semakin besar nilai kristalinitas atau tingkat
kekristalan yang dihasilkan maka susunan atom dalam sampel tersebut semakin
teratur, tingkat kekristalan sampel dari hasil XRD dapat dihitung sesusi dengan
persamaan :
Data hasil uji
XRD kemudian diolah menggunakan
software origin pro 8 sehingga
menghasilkan puncak-puncak difraksi. Dari
puncak-puncak difraksi ini dapat diketahui nilai (FWHM). FWHM merupakan lebar
setengah puncak maksimum dari kristal. Dari Hasil pengujian sampel menggunakan
XRD akan diperoleh hasil ukuran kristal dengan menghitung hasil data
menggunakan Persamaan Debye Scherer (Monshi et al.,2012).
Dimana k
adalah konstanta Scherrer, lamda adalah panjang gelombang sinar x dari XRD yang
mana merupakan gelombang elektromagnetik dengan sumber (λCu) dan beta nilai FWHM (Full Width at half maximum), theta adalah sudut Bragg.
Parameter kisi
dianalisis menggunakan metode Reitveld menggunakan
software General
Stucture Analysis System (GSAS). Data
puncak-puncak difraksi yang dihasilkan digunakan sebagai data masukan dalam software GSAS. Metode Rietveld bertujuan memperhalus parameter pada struktur kristal
dengan metode kuadrat terkecil. Analisa metode Rietveld menghasilkan sekumpulan nilai parameter baru menurut sudut
pandang statistik lebih baik dibandingkan dengan parameter kristal pada model
awal. Parameter yang telah dihaluskan digunakan untuk menghitung intensitas
difraksi secara teoritis dan dibandingkan dengan data eksperimen. Proses
penghalusan dilakukan terus menerus hingga diperoleh kesesuaian antara
intensitas difraksi teoritis dengan intensitas difraksi data eksperimen. Teknik
penghalusan yang digunakan pada GSAS adalah metode kuadrat terkecil yang
dikerjakan oleh program GENLES. Bilangan standart deviasi pada χ2
dari nilai maksimal 1,0. File dan parameter yang dibutuhkan GSAS adalah file
data mentah XRD berekstensi GSAS,group ruang, parameter kisi, posisi atom, dan
file parameter instrument.


Komentar
Posting Komentar